Institut Vinča je jedinstven po multidisciplinarnosti svojih naučnih kapaciteta i poseduje najveću infrastrukturu naučno-istraživacke opreme u Republici Srbiji. U Institutu je takođe smeštena kapitalna oprema velike vrednosti kao i korisničko postojenje FAMA koji služe ne samo za naučne projekte koji se realizuju u Institutu Vinča već i široj naučnoj zajednici u Republici Srbiji.
Spisak naučno-istraživačke opreme po laboratorijama možete preuzeti ovde.
Kapitalna oprema
Ispod je prikazan deo kapitalne opreme koju institut poseduje i u kojoj laboratoriji se nalazi.
FAMA-postrojenje za modifikaciju i analizu materijala jonskim snopovima
JINR, AEA TECHNOLOGY, DANFYSIK
Laboratorija za fiziku
X-ray difraktometar Brucker Advance 8
Laboratorija za teorijsku fiziku i fiziku kondenzovane materije
Mossbauer-ov spektrometar
Laboratorija za teorijsku fiziku i fiziku kondenzovane materije
SQUID magnetometar
Laboratorija za teorijsku fiziku i fiziku kondenzovane materije
Jonski implanter - HV terminal 500 kV - za modifikaciju čvrstih materijala jonima iz oblasti srednjih i visokih energija.
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
• dva tipa izvora: Nilsenov jonski izvor i radio-frekventni (RF) jonki izvor
• analizirajući magnet sa magnetnim poljem do 2T i poluprečnikom krivine
od 90°
• tipične jonske energije su u opsegu od 60 do 500 keV
• mogućnost implantacije jona iz gasova ili iz čvrstih materijala
• maksimalna veličina uzoraka 2,5 × 2,5 cm2
• implantacija pod uglom od 0° ili 7° u odnosu na normalu na površinu uzoraka
• vakuum u komori 10-6 mbar
• mogućnost stavljanja istovremeno nekoliko uzoraka u komoru
SPECSTM XPS (Rendgenska fotoelektronska spektroskopija) - za proučavanje hemijskog sastava površine materijala.
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
• UHV komora (ultra visoki vakuum) za rendgensku fotoelektronsku
spektroskopiju (XPS)
• UHV komora za pripremu uzoraka
• dvo-anodni izvor X-zračenja (AlKα / AgLα)
• elektronski top FG 15/40 za kompenzaciju elektrostatičkog naelektrisanja
• izvor jona za dubinsko profiliranje
HRTEM FEI Talos F200X G2 visoko-rezolucioni transmisioni elektronski mikroskop - je visoko-rezolucioni skanirajući/transmisioni elektronski mikroskop, koji omogućuje strukturnu i hemijsku analizu uzoraka na atomskoj skali.
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
• FEG (field emission gun) izvor elektrona sa maksimalnim
radnim naponom do 200 kV
• rezolucija mikroskopa ispod 0.12 nm
• maksimalno uvećanje do 1.5Mx
• mogućnost rada u više modova (TEM, HRTEM, STEM, itd.)
• ”piezo stage” za fino pomeranje uzorka (≤ 20 pikometara)
• goniometar za tilt uzoraka (α/β) ±30º/±30º
• EDS analiza
SEM FEI Scios2 Dual Beam System - skanirajući elektronski mikroskop za ispitivanje morfologije površine čvrstih materijala.
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
• FEG (field emission gun) izvor elektrona sa maksimalnim
radnim do 30 kV
• rezolucija mikroskopa ispod 1nm
• EDS detektor
• FIB jonska kolona
• PLASMA CLEANER za čišćenje površine uzorka plazmom
• GIS-GAS INJECTION SYSTEM za deponovanje platine
Balzers SPUTTRON II sistem za depoziciju tankih slojeva - za deponovanje tankih slojeva metala i njihovih jedinjenja (npr. nitrida, oksida, itd.)
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
• dva načina deponovanja: d.c. deponovanje i radio-frekventno (RF)
deponovanje
• mogućnošću reaktivnog jonskog rasprašivanja
• mogućnost formiranja jednoslojnih i višeslojnih struktura
• četiri nosača mete za rasprašivanje različitih materijala
• mogućnost zagrevanja podloge do 400º
• pritisak u komori u opsegu 10-6 mbar
GLAD (GLancing Angle Deposition) komora - za deponovanje tankih slojeva pod malim uglovima elektronskim snopom.
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
• isparavanje materijala pomoću elektronskog topa
• rotacija podloge po dve ose
• deponovanje kosih i vertikalnih "stubića", spirala i cik-cak struktura
• vakuum u komori od 10-7 mbar
• kvarcna vaga za merenje debljine deponovanog sloja
HORIBA JOBIN YVON iHR 320 elipsometar - za analizu optičkih svojstava materijala i određivanje debljine uzoraka.
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
• snimanje u opsegu talasnih dužina od 260 do 2066 nm, tj. energija od 0,4 do 4,8 eV
• ručno podesivi goniometar od 55o do 90o sa korakom od 5o
• ex situ režim rada
• in situ režim rada
• snimanje u refleksionom i/ili transmisionom modu
• monohromator
• snimanje više talasnih dužina istovremeno MWL (multi wavelength system)
Magneto-optički Kerov mikroskop i magnetometarski sistem (EVICO MAGNETICS) - za vizuelizaciju magnetnih domena i procesa magnetizacije, kao i merenje površinskih histerezisnih petlji.
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
• polarizacioni mikroskop
• LED lampa kao izvor svetlosti
• snimanje u polarnom i longitudinalnom režimu rada
• postoji mogućnost zagrevanja/hlađenja uzoraka tokom snimanja (4K – 325 K)
• rotiranje uzorka u magnetnom polju
• opseg polja u ravni 10-4 T do 1.4 T
VEECO Multimode Quadrex SPM mikroskop u polju atomskih sila (AFM) - se koristi za ispitivanje topografije.
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
• mogućnost rada u više režima rada, AFM, MFM i EFM režimi rada
• visoka osetljivost uređaja i mogućnost snimanja do atomske rezolucije
• dimenzije uzoraka 1×1 cm2
TMAQ400 -Termo-mehanički analizator- za merenje mehaničkih svojstava materijala, istraživanje novih materijala, podučavanje i kontrolu kvaliteta.
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
• široki temperaturski opseg rada(-150-1000°C)
• precizna kontrola temperature (± 1°C)
• poseban dodatak rezervoara za hlađenje omogućuje pasivno hlađenje u struji N2
• softverski omogućeno programiranje sile u širokom opsegu (0,001-2N)
• režimi rada: standardni; napon/deformacija; puzanje; stres/relaksacija; dinamički i modulisani
• eliminisali efekti termičkog gradijenta tokom merenja
Vakuumska peć MTI GSL 1600X, modifikovana za depoziciju nanostruktura, metodom VLS (Vapor-Liquid-Solid – para-tečno-čvrsto) - metoda koja je zasnovana na ispravanju ciljanog materijala, i nanošenju (deponovanju) na odgovarajuće pripremljeni substrat, korišćenjem nosećeg gasa, podesivog protoka.
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
• mogućnost primene različitih nosećih gasova – protok do 100 sccm
• temperatura zagrevanja do 1600 oC
• maksimalna brzina zagrevanja 10 o/min
X-ray difraktometarRigaku
Laboratorija za radijacionu hemiju i fiziku
Optički profilometar, ZYGO NewView 7100
Laboratorija za fizičku hemiju
Gasni hromatograf sa masenim detektorom i termalnim desorberom, Agilent Technologies
Laboratorija za fizičku hemiju
Induktivno spregnuta plazma sa optičkom emisionom spektrometrijom, Thermo Scientific
Laboratorija za fizičku hemiju
Platforma za analizu mikročipova, Illumina Iscan Microarray Scanner
Laboratorija za radiobiologiju i molekularnu genetiku 